ГОСТ 8.381-80 (СТ СЭВ 403-76) «Государственная система обеспечения единства измерений. Эталоны. Способы выражения погрешностей» (утратил силу)

ГОСТ 8.381-80
(СТ СЭВ 403-76)
 
Государственная система обеспечения единства измерений
Эталоны
Способы выражения погрешностей

State system for ensuring the uniformity of measurements.

Standards. The ways of expressing the errors

Взамен введен ГОСТ 8.381-2009 (ИУС № 2-2010 г.)

Содержание

1. Общие положения

2. Способы выражения погрешностей первичных эталонов

3. Способы выражения погрешностей вторичных эталонов

Приложение 1. Термины и их определения

Приложение 2. Примеры формул для вычисления

Приложение 3. Обозначения

Приложение 4. Пример вычисления погрешностей

Приложение 5. Информационные данные о соответствии ГОСТ 8.381-80 и СТ СЭВ 403-76

1. Общие положения

1.1. Погрешность эталонов СЭВ и государственных первичных (специальных) эталонов (далее - первичных эталонов) характеризуется:

неисключенной систематической погрешностью;

случайной погрешностью;

нестабильностью.

Допускается указывать случайную погрешность воспроизведения единицы с учетом передачи ее размера или последнюю указывать отдельно.

1.2. Оценку неисключенной систематической погрешности первичного эталона находят на основании экспериментальных данных исследований эталона, анализа погрешностей метода воспроизведения единицы и погрешностей от действия влияющих величин, а также на основании международных сличений эталона с эталонами других стран и с эталоном СЭВ, если он имеется.

1.3. Оценку случайной погрешности первичного эталона находят на основании экспериментальных данных, полученных при исследовании эталона, и на основе анализа влияющих величин.

1.4. Оценку нестабильности первичного эталона, вызываемую влиянием старения его отдельных элементов и другими причинами, находят на основании исследований эталона во времени, а также по данным периодических международных сличений.

1.5. В оценку погрешности передачи размера единицы должны входить как неисключенные систематические, так и случайные погрешности метода и средств передачи.

1.6. Оценки погрешности вторичных эталонов должны характеризовать отклонения размеров хранимых ими единиц от размера единицы, воспроизводимой при помощи первичного эталона.

Для вторичного эталона указывают суммарную погрешность, включающую случайные погрешности сличаемых эталонов и погрешность передачи размера единицы от первичного (или более точного вторичного) эталона, а также нестабильность вторичного эталона.

Допускается суммарную погрешность вторичного эталона определять с учетом его неисключенной систематической погрешности.

Допускается указывать отдельно неисключенную систематическую погрешность вторичного эталона, а также его нестабильность.

По требованию заказчика могут быть указаны отдельно и другие составляющие погрешности вторичного эталона.

1.7. Нестабильность вторичного эталона должна определяться на основании сличений с первичным эталоном в начале и конце периода, для которого она определяется.

1.8. Оценку погрешности эталонов следует указывать либо в абсолютной форме в единицах измеряемой величины, либо в относительной форме.