|
СТ РК ISO 13565-1-2016 Геометрические характеристики изделий (GPS)
(ISO 13565-1:1996+Cor. 1.1998 «Geometrical Product Specification (GPS) - Surface texture: Profile method; Surfaces having stratified functional properties - Part 1: Filtering and general measurement conditions», IDT)
6. Процесс фильтрации для определения профиля шероховатости 7. Выбор верхней критической длины волны λс и длины оценки значений параметров шероховатости ln Приложение А (информационное). Связь с матричной моделью GPS
В настоящей части СТ РК ISO 13565 описан метод фильтрации, применяемый к поверхностям, имеющим глубокие впадины, расположенные ниже уровня более ровных плоских горизонтальных поверхностей с минимальной волнистостью. Базовые линии, получаемые в результате фильтрации согласно ISO 11562 для таких поверхностей, подвергаются нежелательному влиянию этих впадин. Метод фильтрации, описанный в этом стандарте, подавляет влияние впадин на базовую линию таким образом, что образуется более удовлетворительная базовая линия.
Для применения настоящего стандарта (документа) необходимы следующие ссылочные документы. Для датированных ссылок применяют только указанное издание ссылочного документа: ISO 3274:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristics of contact (stylus) instruments (Геометрические характеристики изделий (GPS). Структура поверхности: профильный метод. Номинальные характеристики контактных (щуповых) приборов). ISO 4287:1997 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and surface texture parameters (Геометрические характеристики изделий (GPS). Структура поверхности: профильный метод. Термины, определения и параметры структуры поверхностей). ISO 11562:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Metrological characteristics of phase correct filters (Геометрические характеристики изделий (GPS). Структура поверхности: профильный метод. Метрологические характеристики фильтров с коррекцией фазы).
В настоящем стандарте применяются термины по ISO 3274 и ISO 4287.
Для измерения профилей в соответствии с настоящей частью СТ РК ISO 13565 рекомендуется применять измерительную систему, объединяющую в одно целое все внешние источники. В случае проведения экспертизы использование такой системы является обязательным.
Документ показан в сокращенном демонстрационном режиме
Чтобы продолжить, выберите ниже один из вариантов оплаты
Доступ к документам и консультации
от ведущих специалистов
Вы можете купить этот документ
Как купить документ? 8000 тг
|